• 美国GE贝克休斯B4S超声波探头

    详细信息

     品牌:美国GE贝克休斯  型号:B4S  加工定制:否  
     用途:超声波探伤仪探头  是否进口:是   

    美国GE德国KK贝克休斯Waygate  B4S-EN超声波探头

    纵波单晶探头

    适合DGS缺陷评判

    性能参数误差小,适合高精度检测

    可更换保护膜,保护探头不被磨损

    柔性保护膜,即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上也能很好地耦合

    合金压铸壳体,坚固耐用

    用于高温检测时可加装高温延迟块(定制产品)


    应用

    用于检测简单形状的工件中平行于表面的缺陷

    锻件、铸件

    金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

    板材、棒材、方形材

    容器、机器零件、壳体


    B..S系列

     

    A=30mm

    B=59mm

    C=45mm

    D=29mm

     

    系列

    型号

    频率

    (MHZ)

    接口方向

    带宽

    晶片直径

    接口类型

    保护膜

    BS

    B1S-EN

    1

    侧装

    25

    24mm

    Lemo 01

    ES45

    B1S

    1

    B2S

    2

    B2.25SE

    2.25

    B4S

    4

    B5S

    5

    B1S-O

    1

    顶装

    B2S-O

    2

    B4S-O

    4

    B5S-O

    5

     

    MB..S系列

     

    A=20mm

    B=43mm

    C=25mm

    D=15mm

     

    系列

    型号

    频率(MHZ)

    接口方向

    带宽

    晶片直径

    接口类型

    保护膜

    MBS

    MB1S

    1

    侧装

    25

    10mm

    Lemo 00

    ES24

    MB2S

    2

    MB2S-EN

    2

    MB4S

    4

    MB4S-EN

    4

    MB5S

    5

    MB6S

    6

    MB2S-O

    2

    顶装

    MB4S-O

    4

    MB5S-O

    5

     


     
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